Knowledge Management System of Institue of Mechanics, CAS
| 纳米硬度计及其在微机电系统中的应用 | |
张泰华 ; 杨业敏
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| Source Publication | 现代科学仪器
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| 2002-02-25 | |
| Issue | 1Pages:32-37 |
| Abstract | 微机电系统 (MEMS)技术的迅速崛起 ,推动了对其所用材料和结构的力学性能研究。本文简要介绍纳米硬度技术的发展、理论模型和MTS公司的NanoIndenterXP系统的配置、测量原理及功能。并根据我们的一些研究结果 ,说明它在微机电系统中的应用 |
| Keyword | 微机电系统 纳米压痕 纳米划痕 |
| Language | 中文 |
| Funding Organization | 国家自然科学基金资助项目 (批准号 :1 0 1 0 2 0 2 1和 1 0 1 72 0 86) |
| Document Type | 期刊论文 |
| Identifier | http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/41940 |
| Collection | 力学所知识产出(1956-2008) |
| Corresponding Author | 张泰华 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 张泰华,杨业敏. 纳米硬度计及其在微机电系统中的应用[J]. 现代科学仪器,2002,1,:32-37. |
| APA | 张泰华,&杨业敏.(2002).纳米硬度计及其在微机电系统中的应用.现代科学仪器(1),32-37. |
| MLA | 张泰华,et al."纳米硬度计及其在微机电系统中的应用".现代科学仪器 .1(2002):32-37. |
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