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离子束外延制备GaAs:Gd薄膜 | |
宋书林; 陈诺夫; 周剑平; 尹志岗; 李艳丽; 杨少延; 刘志凯 | |
发表期刊 | 功能材料 |
2004-06-25 | |
期号 | 3页码:336-337 |
摘要 | 室温条件下,用低能离子束外延制备了GaAs∶Gd薄膜,X射线衍射(XRD)结果表明除了GaAs衬底峰没有发现其它新相的衍射峰,并借助于高分辨X射线衍射(HR XRD)进一步分析了晶格常数的变化特点。俄歇电子能谱(AES)分析了样品表面的成分,及元素随深度的分布规律,在60nm深处元素的相对含量发生明显改变,运用原子力显微镜(AFM)揭示了样品表面的形貌特点。 |
关键词 | Gaas∶gd薄膜 低能离子束外延 Gaas衬底 |
语种 | 中文 |
项目资助者 | 国家自然科学基金资助项目(60176001) ; 国家重大基础研究计划资助项目(G20000365和G2002CB311905) |
文献类型 | 期刊论文 |
条目标识符 | http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/41954 |
专题 | 力学所知识产出(1956-2008) |
通讯作者 | 宋书林 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 宋书林,陈诺夫,周剑平,等. 离子束外延制备GaAs:Gd薄膜[J]. 功能材料,2004,3,:336-337. |
APA | 宋书林.,陈诺夫.,周剑平.,尹志岗.,李艳丽.,...&刘志凯.(2004).离子束外延制备GaAs:Gd薄膜.功能材料(3),336-337. |
MLA | 宋书林,et al."离子束外延制备GaAs:Gd薄膜".功能材料 .3(2004):336-337. |
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