| 一种基于光强时间积分的光谱测量衰荡时间的推算方法 | |
杨乾锁 ; 黄知秋
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| 2022-09-30 | |
| Rights Holder | 中国科学院力学研究所 |
| Abstract | 本发明公开了一种基于光强时间积分的光谱测量衰荡时间的推算方法，包括以下步骤：获取腔衰荡吸收光谱测试中的包含完整衰荡过程的测试数据，生成衰荡曲线；从测试数据中选择多个用于推算光谱测量衰荡时间的分析时间点；从衰荡曲线分别确定多个分析时间点对应的测试数据，利用光强‑时间积分方法分别计算多个分析时间点的事件积分值；利用衰荡时间计算公式处理多个事件积分值，以确定完整衰荡过程的衰荡时间值；本发明选择衰荡过程中的多个衰荡数据段进行积分处理，利用积分值简单地推算衰荡事件的衰荡时间，使用过程简单、计算机运行时间相对较短，且其推算精度不低于传统的最小均方差拟合方法。 |
| Application Date | 2021-07-07 |
| Application Number | CN202110766267.1 |
| Patent Number | CN113567366B |
| Claim | 1.一种基于光强时间积分的光谱测量的衰荡时间推算方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤100、从腔衰荡吸收光谱测试实验中获取包含完整衰荡过程的测试数据，生成衰荡曲线； 所述衰荡曲线为包含偏置电压和系统噪声信号的单指数衰荡曲线； 所述衰荡曲线的函数关系式为： 其中，I0exp(-t/τRD)单指数衰荡信号；IP为偏置信号；ΔI为噪声信号，且噪音信号的时间积分等于零； 步骤200、从所述衰荡曲线中选择多个用于推算光谱测量衰荡时间的分析时间点； 在步骤200中，选择分析时间点的筛选规则为： 从所述完整衰荡过程的衰荡前期选择一组前期分析时间点，所述前期分析时间点对应的注入光被完全关断，且所述前期分析时间点的测试数据保持高信噪比； 从所述完整衰荡过程的衰荡后期选择一组后期分析时间点，所述后期分析时间点的测试数据包含光电探测器的噪声信号和腔衰荡吸收光谱测试系统的偏置电压信号； 步骤300、从所述衰荡曲线分别确定多个所述分析时间点对应的测试数据，利用光强-时间积分方法分别计算多个所述分析时间点的； 计算多个所述分析时间点的测试数据积分值的实现方法为： 将两个所述前期分析时间点为一组，确定一组前期分析时间点之间的时间差值作为积分时间段，计算每组所述前期分析时间点的测试数据积分值； 计算两个所述后期分析时间点之间的测试数据积分值； 步骤400、处理多个所述测试数据积分值得到衰荡时间计算公式，以确定所述完整衰荡过程的衰荡时间值，所述衰荡时间计算公式具体为测试数据积分值的等式变换。 |
| Language | 中文 |
| Classification | 发明授权 |
| Status | 有效 |
| Note | 授权 |
| Country | 中国 |
| Agency | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) |
| Document Type | 专利 |
| Identifier | http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/91136 |
| Collection | 流固耦合系统力学重点实验室 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 杨乾锁,黄知秋. 一种基于光强时间积分的光谱测量衰荡时间的推算方法. CN113567366B[P]. 2022-09-30. |
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