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一种基于显微图像的激光栅线成形质量自动检测方法 | |
田崇鑫![]() ![]() ![]() ![]() | |
2023-11-10 | |
Rights Holder | 广东空天科技研究院(南沙) ; 中国科学院力学研究所 |
Abstract | 本发明提供一种基于显微图像的激光栅线成形质量自动检测方法,包括:获取测量数据:进行激光栅线成形工艺试验,由三维形貌测量工具获取栅线表面高度数据并存储为数字量;提出测量指标:等效遮挡宽度、等效导电面积、无量纲的等效高宽比;编写计算机程序实现测量指标的自动测量。依据本发明可快速检测栅线成形质量是否合格或者符合预期,对工艺参数探索优化及激光栅线成形技术的工程应用均有较大意义。 |
Application Date | 2023-05-10 |
Application Number | CN202310522935.5 |
Patent Number | CN116525480B |
Claim | 1.一种基于显微图像的激光栅线成形质量自动检测方法,其特征在于,包括如下步骤: S100、获取测量数据:进行激光栅线成形工艺试验,由三维形貌测量工具获取栅线表面高度数据并存储为数字量,包括: S101、针对栅线的成形要求,选用匹配的激光栅线成形工艺参数,在基材上成形出所需的栅线; S102、使用可输出数字图像信号的三维形貌测量工具,视场大小设定为1024*1024pixels;移动被测量栅线的位置,使其清晰地处在视场正中并矫正、校平; S103、调整测量工具的放大倍率,使观察的激光栅线显示宽度处于256~512pixels范围内,使基平面显示宽度处于512~768pixels范围内; S104、获取视场内表面高度数据H0(i,j),并记录放大倍数k与最大高度hmax;H0(i,j)为1024*1024的矩阵,内部元素单位为μm,其中i和j为图像两个方向的索引,取值均为1~1024;k的单位为pixel/μm;hmax为H0(i,j)内元素的最大值,单位为μm; S105、归一化的高度数据H(i,j)以公式H(i,j)=255*(H0(i,j)/hmax)计算并取整,取值为0~255,以无符号整形即uint8的形式存储为1024*1024的矩阵;在数据存储时采用无损压缩算法进一步压缩数据; S200、提出测量指标:从测量数据中提出三个可量化的指标:等效遮挡宽度,单位为μm、等效导电面积,单位为μm2、无量纲的等效高宽比,包括: S201、选取遮挡宽度作为测量栅线宽度的基准; S202、定义等效遮挡宽度w,单位为μm,包括: 理想状态下,在基底平面上做一垂直于栅线的直线,与成形的栅线相交,形成一直线段,定义此直线段为遮挡宽度w0,单位为μm;在采样点前后各取长度为m的栅线段进行计算,即取样总长为2m+1,取其遮挡宽度的平均值定义为等效遮挡宽度w; S203、定义等效导电面积a,单位为μm2,包括: 做一垂直于栅线并且垂直于基底的平面,与成形的栅线相交,形成一轮廓曲线段,此曲线段与S202中的所述直线段形成一闭合图形,定义此闭合图形的面积为导电面积a0,单位为μm2;取一长度为2m+1的栅线段,取其导电面积的平均值定义为等效导电面积a; S204、定义等效高宽比r,包括: 将S203中的等效导电面积a除以S202中的等效遮挡宽度w的平方,得到一个无量纲的等效高宽比r,用于反应栅线的形状: S300、进行测量指标的自动测量,全流程处理速度<1s,包括: S301、对取样长度m与计算位置x进行选取: 在归一化的高度数据H(i,j)中,将i方向定义为栅线方向,j方向为与其垂直的方向;x为计算点的i坐标,取值范围为(m+1,1024-m); S302、计算等效遮挡宽度w,单位为μm: 其中,i∈(x-m,x+m),j∈(x-m,x+m); H1(i,j)为计算等效遮挡宽度w的中间参数,数值意义为被栅线遮挡的区域记为1,未遮挡区域记为0,公式表达为: S303、计算等效导电面积a,单位为μm2: 其中,i∈(x-m,x+m),i>0, S304、计算无量纲的等效高宽比r: S305、取m为12,计算S302~S304中w(x)、a(x)、r(x)的方差,定义为ws、as、rs;在w(x)、a(x)、r(x)分布符合3σ规则时,测量数据有效;当不符合3σ规则时,表明测量误差太大或者栅线不均匀连续,重新测量或者判断样品不合格; S306、判断数据有效性后,将采样范围内的等效遮挡宽度w、等效导电面积a、无量纲的等效高宽比r作为最终输出结果,定义为wm、am、rm: S307、描述栅线中任一处形貌的3个指标在S302~S304中被定义并编写计算机程序进行计算,经S305判断测量数据的有效性;在数据有效的情况下由S306输出最终测试结果。 |
Language | 中文 |
Classification | 发明授权 |
Status | 有效 |
Note | 授权 |
Country | 中国 |
Agency | 北京科迪生专利代理有限责任公司 |
Document Type | 专利 |
Identifier | http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/93945 |
Collection | 宽域飞行工程科学与应用中心 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 田崇鑫,于玉翠,李少霞,等. 一种基于显微图像的激光栅线成形质量自动检测方法. CN116525480B[P]. 2023-11-10. |
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000000_20230801_0A_C(1567KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | View Download |
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