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利用迹线测量晶体材料中特征面取向的EBSD方法 期刊论文
电子显微学报, 2008, 卷号: 27, 期号: 4, 页码: 271-274
Authors:  谢季佳;  徐娟;  洪友士
Adobe PDF(247Kb)  |  Favorite  |  View/Download:945/221  |  Submit date:2010/05/03
迹线  晶体取向  电子背散射衍射  反极图