| 一种预测缺陷对高周和超高周疲劳强度影响的方法 | |
孙成奇 ; 魏宇杰
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| 2024-02-02 | |
| Rights Holder | 中国科学院力学研究所 |
| Abstract | 本发明提供一种预测缺陷对高周和超高周疲劳强度影响的方法，首先通过疲劳实验确定某寿命下光滑试样和含缺陷试样的高周和超高周疲劳强度，然后通过数学模型确定缺陷对该寿命下疲劳强度的影响关系。利用该关系，缺陷对疲劳强度的影响可以通过缺陷的尺寸来表征，进而可以预测缺陷对疲劳强度的影响。本发明公开的方法形式简单，便于应用，解决了缺陷对高周和超高周疲劳强度影响的数学模型描述和难以准确评估问题，为含缺陷材料或工程零部件的疲劳性能研究和评价提供了模型和技术支撑。 |
| Application Date | 2021-05-18 |
| Application Number | CN202110538157.X |
| Patent Number | CN113392504B |
| Claim | 1.一种预测缺陷对高周和超高周疲劳强度影响的方法，其特征在于，包括如下步骤： (1)对用于预测的光滑试样和含缺陷试样进行疲劳实验，获得用于预测的某寿命下光滑试样的疲劳强度，以及含缺陷试样的疲劳强度σw,1，σw,2，…，σw,n和相应的缺陷尺寸其中areai，i＝1，2，...，n，为缺陷i垂直于主应力轴的投影面积； (2)该寿命下疲劳强度与缺陷尺寸满足如下关系： 即 其中，σw表示疲劳强度，σw,0表示光滑试样疲劳强度；表示缺陷尺寸，area为缺陷垂直于主应力轴的投影面积；/>为临界缺陷尺寸，小于该尺寸，缺陷对疲劳强度没有影响；m和C是参数，与材料、疲劳寿命和缺陷引入形式有关；m通过对低于光滑试样疲劳强度的缺陷试样疲劳强度和缺陷尺寸采用最小二乘法得到；m的计算方法为：； C通过对低于光滑试样疲劳强度的缺陷试样疲劳强度和缺陷尺寸采用最小二乘法得到；C的计算方法为： (3)将得到的材料参数m和C代入式(2)，得到缺陷对该寿命下疲劳强度的影响模型。 |
| Language | 中文 |
| Classification | 发明授权 |
| Status | 有效 |
| Note | 授权 |
| Country | 中国 |
| Agency | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) |
| Document Type | 专利 |
| Identifier | http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/97436 |
| Collection | 非线性力学国家重点实验室 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 孙成奇,魏宇杰. 一种预测缺陷对高周和超高周疲劳强度影响的方法. CN113392504B[P]. 2024-02-02. |
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